Kategoria: Mikroskopia

Skaningowy mikroskop elektronowy SEM EVO MA25 z analizatorami EDS oraz EBSD firmy Bruker

Skaningowy mikroskop elektronowy z możliwością pracy w trybie wysokiej i niskiej próżni, co pozwala na analizowanie próbek przewodzących i nieprzewodzących. Posiada możliwość obrazowania SE (secondary electron) i BSE (backscattered electron), jest także wyposażony w analizatory EDS (energy dispersive X-ray spectroscopy) i EBSD (electron backscatter diffraction) firmy Bruker. Możliwości badawcze:

  • analiza jakościowa i ilościowa oraz mapowanie składu pierwiastkowego próbek
  • ocena fraktografii powierzchni pęknięcia umożliwiająca stwierdzenie charakteru przełomu, nieciągłości materiałowych oraz np. kruchości wodorowej, stwierdzenie niepożądanych wtrąceń na powierzchni przełomu
  • analiza wielkości i rodzaju wtrąceń niemetalicznych
  • liniowa mikroanaliza powłok i warstw dyfuzyjnych
  • klasyfikacja zanieczyszczeń na sączkach – badania czystości technicznej

możliwość badania próbek o stosunkowo dużych gabarytach (300x200x200 mm)

Mikroskop cyfrowy Keyence VHX-6000

Urządzenie pozwalające na:

  • powiększenie 20 – 1000x
  • zaawansowane wyostrzanie obrazu
  • obrazy w wysokiej jakości i rozdzielczości
  • obserwacja w świetle odbitym i przechodzącym
  • obserwacja pod zmiennymi kątami
  • usuwanie refleksów
  • szybki zautomatyzowany stolik umożliwiający skanowanie powierzchni
  • szybkie składanie powierzchni (do 4 cm)
  • wizualizacja powierzchni 3D
  • pomiar chropowatości powierzchni
  • automatyczne zliczanie cząstek
  • automatyczne wykrywanie krawędzi
  • pomiary w czasie rzeczywistym

Mikroskop metalograficzny Zeiss M1m

Urządzenie pozwalające na:

  • powiększenie 12,5 – 2500x.
  • techniki obserwacyjne w świetle odbitym:
    • jasne pole
    • ciemne pole
    • polaryzacja
    • różnicowy kontrast interferencyjny.
    • różnicowy kontrast interferencyjny w polaryzacji kołowej.
  • możliwość obserwacji w świetle przechodzącym.
  • wbudowany zautomatyzowany stolik umożliwiający skanowanie powierzchni.
  • moduł do składania powierzchni – Mosaix (do 4 cm).
  • moduł 3D.
  • moduł Particle Analysis do analiz zanieczyszczeń na sączkach
  • moduł NMI do analizy wtrąceń niemetalicznych
  • moduł do analizy grafitu w żeliwach
  • moduł do analizy wielkości ziarna